您的位置: 首页 > 技术文章 > 关于散射式近场显微镜的两种测量模式,你清楚吗?

关于散射式近场显微镜的两种测量模式,你清楚吗?

发布时间:2021-05-18浏览:88次

   散射式近场是基于AFM系统的超高分辨光学显微成像系统。通过AFM探针针尖散射并收集样品的近场光学信号,获得纳米级分辨率的样品表面形貌和光场成像。其分辨率与照明光源波长无关。

  是一种在纳米尺度上进行光-物质相互作用的通用型探针,是一种用于绘制复杂光学性质和具有纳米尺度空间分辨率材料现象的强大技术。
  散射式近场测量模式:
  1.PiFM:光诱导力测量模式
  入射光诱导样品表面形成分子偶极子ms
  样品表面的分子偶极子在金属针尖段形成镜像偶极子mt
  ms-mt之间的相互作用力梯度可以通过AFMtip的振动情况探测到。
  当入射光的能量和样品特征激发能相匹配时,光在样品表面诱导形成的dipole与针尖镜像dipole之间的相互作用也会增强,而更容易被AFM探测到。
  样品的具体激发特性可能和样品表面的电子共振激发、等离激元激发或者样品的光学特性等相关。
  2.s-SNOM:散射式近场光学测量模式
  激光光束聚焦到tip尖
  针尖兼尖被激发出一个高度局域化的强光场
  局域强场与样品发生近场相互作用,改变弹性散射光性质
  远场(Detector)收集散射信号
  锁相放大技术—解析出近场光学图像
  散射式近场AFM轻敲模式下,随着针尖的周期性运动,远场散射信号也有一个周期性调制,而近场散射光几乎不被调制。因此,利用锁相放大技术可解析出近场信号,从而获得样品表面的形貌图像和近场光学图像。

 

Contact Us
  • QQ:0
  • 邮箱:pang@8sail.com
  • 传真:
  • 地址:上海市闵行区新骏环路189号漕河泾开发区创新创业园

扫一扫  微信咨询

©2021 八帆仪器设备(上海)有限公司 版权所有    备案号:沪ICP备18014562号-3    技术支持:化工仪器网    Sitemap.xml    总访问量:11098    管理登陆