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原子力显微镜生产厂家采用的样品制备模式都有哪几种?

发布时间:2021-03-22浏览:104次

   原子力显微镜生产厂家因其超高的成像分辨率,常常获得令人惊艳的结果。自然界里,氢原子与电负性大的原子X以共价键结合,它们若与电负性大、半径小的的原子Z(O、F、N)接触生成X-H…Z形式的一种特殊的分子间或分子内相互作用,则为氢键。

  原子力显微镜生产厂家样品制备
  根据针尖与试样表面相互作用力的变化,AFM主要有3种操作模式:接触模式(contactmode),非接触模式(non-contactmode)和敲击模式(tappingmode)。
  接触模式(ContactMode):AFM直接的成像模式。在整个扫描成像过程之中,探针针尖始终与样品表面保持接触,而相互作用力是排斥力。扫描时,悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样的表面结构,因此力的大小范围在10-10~10-6N。若样品表面柔嫩而不能承受这样的力,则不宜选用接触模式对样品表面进行成像。
  非接触模式(non-contactmode):非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5~10nm的距离处振荡。样品与针尖之间的相互作用由范德华力控制,通常为10-12N,样品不会被破坏,而且针尖也不会被污染,特别适合于研究柔嫩物体的表面。不足之处,要在室温大气环境下实现这种模式十分困难。因为样品表面不可避免地会积聚空气中的水,它会在样品与针尖之间搭起小小的毛细桥,将针尖与表面吸在一起,从而增加对表面的压力。
  轻敲模式(TappingMode):原子力显微镜生产厂家轻敲模式介于接触模式和非接触模式之间,是一个杂化的概念。悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡,针尖仅仅是周期性地短暂地接触/敲击样品表面。这就意味着针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了,因此当检测柔嫩的样品时,AFM的敲击模式是选择之一。一旦AFM开始对样品进行成像扫描,装置随即将有关数据输入系统,如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶之间的大距离等,用于物体表面分析。同时,AFM还可以完成力的测量工作,测量悬臂的弯曲程度来确定针尖与样品之间的作用力大小。

 

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